|
|
|
| 面源均匀性对γ谱仪探测效率的影响分析 |
| 田自宁, 贾明雁, 张洋, 申茂泉, 晏林, 冯天成, 成智威 |
| 西北核技术研究所, 陕西西安 710024 |
|
|
|
|
摘要 目的 研究面源均匀性对探测效率的影响。方法 使用偏差分布和积分均匀性两种方法表征两块241Am面源的均匀性,并对两块面源在不同高度进行实验测量其对探测效率的影响。结果 两块面源都是一半放射性较强,一半放射性较弱;1#241Am面源和2#241Am面源积分均匀性分别为15.89%、12.12%,两块面源探测效率最大偏差为6%左右。结论 面源均匀性对探测效率有一定的影响。
|
|
| 关键词 ：
面源均匀性,
探测效率
|
|
收稿日期: 2010-05-16
|
|
|
| 作者简介: 田自宁(1980-),男,工程师,硕士,研究方向:核技术应用与放射性测量。 |
|
|
|
